ディジタルパターン計測器クイックスタート

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ナショナルインスツルメンツ社のモジュール式テスタ PXIe-6570 を使ったLSIテストの実習解説書です。LSIテスタは、LSIの開発や製造には不可欠な装置ですが、従来の装置は大掛かりな上、複雑なLSIのテスト手順やテスト記述言語の知識が必要なので、一般の計測器ほど習得は容易ではありません。しかし、近年、研究開発を想定した小型機種が複数の計測器メーカから発売され、初心者でもLSIテスタが簡単に扱えるようになりました。PXIe-6570の場合は、簡単なGUIで設定を行うようになっていて、VerilogHDLによるシミュレーションができる人ならすぐに使いこなせると思われます。また、LabViewのプログラミングができる人なら、他の計測器モジュールと組み合わせて、特殊な測定や高精度計測もできそうです。ここでは、市販のロジックICを使って、LSIテスタの基本操作を説明します。

主な仕様
データレート100MHz, DDR可能
IOピン数32ch/モジュール
メモリデプス128M/ch
電圧範囲-2.0 - 6.0V, 122uV/step

[参考] LSIテスタまたはATE (Automated Test Equipment) は、LSIの動作検証や性能評価を行う装置ですが、ロジックアナライザとはかなり違っています。一番大きな違いは、サイクルベース検証、タイミング検証、電圧レベル検証が一括して行われることです。これにより、エラーが発生しない動作条件範囲を明確にすることができます。また、各IOピン毎に、論理振幅、インピーダンス、負荷などを設定したり、途中で変更することも簡単にできます。

Contents
Contents
以前愛用していたテスタIMS社ATS-100(上)と現在のPXIe-6570(下)。20年で1/100以下のサイズに。

Contents

  1. 練習用デバイスの準備
  2. ケーブルの接続
  3. ピン割り当て
  4. レベルとタイミングの設定
  5. パターンベクタの作成とテストの実行
  6. VerilogHDLシミュレーションのインポート
  7. Shmooプロット
  8. 付録:直流伝達特性の測定

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