IMS ATS-100 実習解説書 |
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金沢大学VDECサブセンターのVLSI評価試験室に設置されているLSIテストシステム (IMS ATS-100) の実習解説書です。基本操作をすばやくマスターするために開発された専用のチップを使用して実習を行うようになっています。初めて使用する人は、電子情報学類の北川にトレーニングを申し込んでください。この解説書は、よく使われる基本機能に絞って解説していますが、ATS-100 は、通常の不良品選別に使用されるLSIテスタとは異なり、開発段階での複雑なテストや性能評価で使用されることを想定して開発されたマニアックなシステムです。より高度な使用法については、VLSI評価試験室の解説書をご覧ください。
主な仕様
電源 | 最大50V, 2系統 |
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データレート | 最大100MHz |
IOピン | 128Pin, 128Kb/pin |
IO電圧 | -3.5~4.5V, -2.5~6.5V |
Copylight (C) 2002 Akio Kitagawa, Kanazawa Univ.